電子組件顆粒污染物風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估方法（一）

電子組件顆粒污染物是指在電子組件或系統(tǒng)中存在的各種微小顆粒，這些顆粒可能來(lái)源于多種途徑，包括生產(chǎn)過(guò)程中的材料、操作人員的衣物和皮膚、設(shè)備磨損、以及環(huán)境中的塵埃等。

電子組件顆粒污染物可能引發(fā)多種問題：金屬顆?？赡軜蚪与娐分械膶?dǎo)電部分造成短路，損害設(shè)備性能甚至導(dǎo)致設(shè)備徹底損壞；機(jī)械運(yùn)動(dòng)部件如連接器可能會(huì)被顆粒物阻塞，引發(fā)機(jī)械故障；某些含有腐蝕性物質(zhì)的顆粒污染物還可能腐蝕金屬部件或改變材料屬性；在光學(xué)系統(tǒng)中，顆粒污染物會(huì)散射或吸收光線，降低圖像質(zhì)量。

下面合明科技小編給大家介紹的是電子組件顆粒污染物風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估方法（基于擊穿電壓測(cè)試的擊穿概率評(píng)估法），希望能對(duì)您有所幫助！

電子組件顆粒污染物風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估方法：

電子組件顆粒污染物風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估具體方法流程如下：

1、測(cè)試準(zhǔn)備

先準(zhǔn)備好相鄰的導(dǎo)體（如梳型電路板）及金屬顆粒，手動(dòng)將顆粒放置在兩個(gè)導(dǎo)體頂部，并目視確認(rèn)顆粒幾何接觸兩個(gè)導(dǎo)體。

2、測(cè)試設(shè)置

設(shè)定DC電壓從1V逐漸增加到60V，每次增加1V，每個(gè)電壓點(diǎn)保持一定時(shí)長(zhǎng)，設(shè)置合適的限流條件。

3、結(jié)果記錄

記錄電流顯著變動(dòng)時(shí)的電壓，即為擊穿電壓。為獲得具有統(tǒng)計(jì)性的結(jié)果，每次測(cè)試完成后，重新放置顆粒并測(cè)試，直到實(shí)現(xiàn)了25次擊穿，最大測(cè)量次數(shù)限制為50次。

4、接觸概率計(jì)算

根據(jù)公式計(jì)算出短路接觸的概率：

以上就是關(guān)于電子組件顆粒污染物風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估方法的相關(guān)知識(shí)介紹了，希望能對(duì)您有所幫助！

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